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Picometer measurements of interferometric white-light fringes

机译：干涉白光条纹的皮规计测量

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作者
Shaklan, S. B.; Milman, M. H.; Kuhnert, A. C.; Shen, T. -P. J.;
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作者单位

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年度 2001
页码 1-1
总页数 1
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
INTERFEROMETRY; METROLOGY; SPACE MISSIONS; metrology space interferometry mission interferometry;

机译：干涉; mETROLOGY;空间使命;计量空间干涉测量任务干涉测量;

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