FLOATING; RADIATION EFFECTS; TRAVELING IONOSPHERIC DISTURBANCES; flash memory floating gate memory radiation;
机译:缩放对高密度NAND闪存的SEE和TID响应的影响
机译:NOR和NAND闪存中TID引发的故障模式分析
机译:单层和多层高密度NAND闪存的TID降解和SEE敏感性机制评估
机译:电荷陷阱3D NAND闪存中TID辐射影响的实验特征
机译:闪存设备中的热载流子效应。
机译:质子辐射对PPD CMOS图像传感器暗信号分布的影响:TID和DDD效应
机译:高级闪存中的TID,sEE和辐射引发的故障
机译:高级闪存中的TID,sEE和辐射引发的故障