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NASA Electronic Parts and Packaging (NEPP) Program, Discussion of Highly Accelerated Life Testing (HALT) of Capacitors.

机译:Nasa电子零件和封装(NEpp)计划,讨论电容器的高加速寿命测试(HaLT)。

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摘要

Highly Accelerated Life Testing (HALT) testing holds promise for affordable efficient acceptance testing of multi-layer ceramic chip capacitors (MLCCs) especially for commercial off the shelf (COTS).

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