机译:高度加速寿命测试(HALT),用于多层陶瓷电容器鉴定
机译:高加速寿命试验下Ni-Multidayer陶瓷电容器降解局部微观结构的分析
机译:高加速寿命试验下Ni-BaTiO_3多层陶瓷电容器绝缘电阻下降的分析
机译:高加速寿命试验下Ni-BaTiO_3贱金属电极多层陶瓷电容器的降解行为和失效分析
机译:使用高度加速寿命测试(HALT)确定多层陶瓷电容器的可靠性
机译:铁电性能对II类多层陶瓷电容器力学行为的影响
机译:X7R多层陶瓷电容器在高加速寿命测试(HALT)期间的可靠性
机译:高加速寿命试验条件下内Ni电极的多层陶瓷电容器的可靠性
机译:Nasa电子零件和封装(NEpp)计划,讨论电容器的高加速寿命测试(HaLT)。