MOS Transistors; Damage; Ionization; Radiation Effects;
机译:同步辐射对4nm厚栅极氧化物MOSFET器件特性和抗热载流子损伤的影响
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机译:辐射应力和热载流子应力对npn双极结晶体管电流增益的协同效应
机译:ESD引起的NMOS和PMOS晶体管损坏和热载流子可靠性
机译:辐照损伤对GaN基金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管和β-GA2O3的影响
机译:血液基因表达谱研究揭示细胞凋亡和p53信号通路的激活可能是电离辐射损伤和辐射诱导的旁观者效应的潜在分子机制
机译:热载体应力的可放松损坏OFN-MOS晶体管
机译:描述mOs晶体管中热载流子和辐射效应的模型