Dies; Schottky Barrier Diodes; Documentation; Doped Materials; Electrical Properties; Electrodes; Fabrication; Impact Shock; Manufacturing; Mechanical Vibrations; Performance Testing; Quality Assurance; Radiation Hardening; Reliability; Semiconductor Materials; Sensitivity; Service Life; Specifications; Technology Assessment; Temperature Effects; EDB/360605; EDB/420500; EDB/426000;
机译:基于ZnO的MOS型肖特基势垒二极管的电气特性
机译:单层石墨烯夹层Au / n型InP肖特基势垒二极管的制备与表征
机译:低温下GaN肖特基势垒二极管的电学特性
机译:肖特基势垒二极管金属屏障高度的表征
机译:在硅衬底上生长的异质外延3C碳化硅上的肖特基势垒二极管的电学特性。
机译:具有改善的势垒高度均匀性的单层石墨烯/ SiC肖特基势垒二极管作为检测重金属的传感平台
机译:平面Ga2O3肖特基势垒二极管的电气特色
机译:低电容电子束制造的束引线肖特基势垒二极管。 1981年3月至1985年1月的最终技术报告