Data Acquisition Systems; EDB/426000; EDB/440100; Energy Transfer; Integrated Circuits; Ion Microprobe Analysis; Ion Microscopy; Mapping; Meetings; Physical Radiation Effects; Silicon; Spatial Resolution;
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机译:新技术集成电路的单事件效应表征。
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机译:重离子宽束和微探针研究0.20-μmsiGe异质结双极晶体管和电路中的单事件干扰