Boron carbides; Silicon carbides; Junction transistors; Polymers; High temperature; Heterojunctions; Fabrication; Field effect transistors; Nickel; Doping; Phosphorus; Palladium; Wide gap semiconductors; Metallocenes;
机译:结合衬底基部温度分布的新型封装器件最高结温分析方法
机译:利用线性温度值计算半导体器件的非线性结温
机译:SiC功率器件的最高结温
机译:用准阈值电压作为温度敏感电参数表征SiC功率器件结温的稳健方法
机译:使用高温超导双晶结的多层Josephson器件。
机译:在印度三个州温度完整性和疫苗在冷链设备中处于不同水平的次最佳温度下的暴露情况
机译:在较高结温下操作的SIC电源装置中接触孔的电迁移可靠性