silicon; gallium arsenides; ion implantationhall effect; doping; indium; tellurium; semiconductor devices; fabrication; energy levels; electrical properties; silicon nitrides; aluminum compounds; nitrides; encapsulation; theses;
机译:原子层沉积生长硅和砷化镓衬底上氧化铝薄膜的电性能比较
机译:弹性形变场中砷化镓注入层的结构特性
机译:掺硅砷化镓的扩散和电性能
机译:半绝缘砷化镓衬底性能对注入硅的有源层的影响
机译:砷化镓晶体生长中缺陷,杂质和载体的特征及其对电性能,热稳定性和注入退火特性的影响。
机译:通过砷化镓结-场效应晶体管电检测带电肽的生物相互作用
机译:通过快速热氧化形成高掺杂的砷化镓层,然后通过硅封镓砷化镓快速热退火
机译:离子注入砷化镓形成p-n结的电学特性研究