机译:AlN薄膜作为纳米机电系统的超灵敏材料的残余应力测量和力学性能
AlN; FTIR ellipsometry; Group III nitride; laser Doppler vibrometer; MEMS; NEMS; residual stress; thin film;
机译:AlN薄膜作为纳米机电系统的超灵敏材料的残余应力测量和力学性能
机译:用于纳米机电系统的GaN /蓝宝石上溶胶-凝胶衍生的Pb(Zr0.3Ti0.7)O3薄膜的微观结构和性能
机译:溶胶/凝胶法制得的GaN /蓝宝石上Pb(Zr0.3 sub> Ti0.7 sub>)O3 sub>薄膜的结构和性能
机译:使用MEMS结构测定的薄3C-SiC(111)膜的机械性能和残余应力
机译:N合金化的AlN薄膜:结构,压电和磁性。
机译:基于水泡试验技术的残余应力薄膜/基体系统表面和界面力学性能同步表征的理论研究
机译:关于薄膜系统的微机械原位测量关于残留应力,断裂性能和界面韧性的测定