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机译:会聚束电子衍射法测定异质结构的透射电子显微镜截面中的体积失配值
机译:会聚束电子衍射法测定异质结构的透射电子显微镜截面中的体积失配值
机译:结合使用扫描透射电子显微镜和会聚束电子衍射方法对BaTiO_3的四方相中菱面体纳米结构的极化进行二维映射
机译:通过透射电子显微镜和会聚束电子衍射检测来自硅掺杂区(<1 at。%)的特征信号。
机译:晶格错配III-V异质结构与衬底表面处理的透射电子显微镜和应变松弛
机译:通过会聚束电子衍射表征低于100 nm的硅晶体管中的应变。
机译:使用透射电子显微镜的电子衍射
机译:利用电子衍射和高分辨率透射电子显微镜图案确定结构的Domino相位检索算法
机译:通过高分辨率原位TEm(透射电子显微镜)和TED(透射电子衍射)对小金属颗粒进行结构表征和气体反应