机译:用低能正电子冲击测量Cu K和Ag,In和Sn L X射线的生产截面
X-ray production cross section; Positron; Inner-shell ionization;
机译:用低能正电子冲击测量Cu K和Ag,In和Sn L X射线的生产截面
机译:Cu和L壳的K壳的扭转波电离和X射线产生横截面通过正电子撞击
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机译:L-壳X射线生产横截面Ag,In和Sn通过正电子撞击
机译:在质能= 1.96 TeV的质子-反质子碰撞中,衰减到电子-正电子射流产生截面的Z /γ玻色子的测量。
机译:在...公式... ...公式... pp碰撞中测量顶级夸克对产生的双微分横截面以及对parton分布函数的影响
机译:通过电子碰撞测量Ge的绝对K壳电离截面和L壳X射线产生截面