机译:低能电子撞击研究In和Sn的L壳x射线产生截面的研究
机译:用中能电子碰撞法测量Se的Al和L壳x射线产生截面的K壳电离截面
机译:通过电子碰撞测量Ge的绝对K壳电离截面和L壳X射线产生截面
机译:L-壳X射线生产横截面Ag,In和Sn通过正电子撞击
机译:在质能= 1.96 TeV的质子-反质子碰撞中,衰减到电子-正电子射流产生截面的Z /γ玻色子的测量。
机译:在...公式... ...公式... pp碰撞中测量顶级夸克对产生的双微分横截面以及对parton分布函数的影响
机译:用10-30keV电子测量W,Pt和Au的L壳x射线产生截面
机译:用于25-meV碳和32-meV氧离子的Nd,Gd,Ho,Yb,au和pb的L-shell X射线生产截面