首页> 外文期刊>Nano letters >High-Density Crossbar Arrays Based on a Si Memristive System
【24h】

High-Density Crossbar Arrays Based on a Si Memristive System

机译:基于Si忆阻系统的高密度交叉开关阵列

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

We demonstrate large-scale (1 kb) high-density crossbar arrays using a Si-based memristive system. A two-terminal hysteretic resistive switch (memristive device) is formed at each crosspoint of the array and can be addressed with high yield and ON/OFF ratio. The crossbar array can be implemented as either a resistive random-access-memory (RRAM) or a write-once type memory depending on the device configuration. The demonstration of large-scale crossbar arrays with excellent reproducibility and reliability also facilitates further studies on hybrid nano/CMOS systems.
机译:我们演示了使用基于Si的忆阻系统的大规模(1 kb)高密度纵横制阵列。在阵列的每个交叉点处都形成了一个两端滞回电阻开关(忆阻器件),并且可以以高良率和开/关比进行寻址。根据设备配置,交叉开关阵列可以实现为电阻式随机存取存储器(RRAM)或一次写入型存储器。具有出色的可重复性和可靠性的大规模交叉开关阵列的演示也促进了对混合纳米/ CMOS系统的进一步研究。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号