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机译:蒸发沉积在p型Si衬底上ZnO薄膜结构性能的退火后改性
Semiconducting II–VI materials; Resistivity; Atomic force microscopy; Fourier transform infrared spectroscopy; Scanning electron microscopy; X-rays diffraction;
机译:蒸发沉积在p型Si衬底上ZnO薄膜结构性能的退火后改性
机译:溅射沉积的ZnO薄膜的光学和结构性质与后退火和衬底温度的关系
机译:后退火对射频磁控溅射沉积在玻璃基板上的掺镓ZnO薄膜的结构和纳米力学性能的影响
机译:衬底温度和退火后处理对溅射沉积ZnO:Al薄膜微结构和电性能的影响
机译:钛酸钡固溶体薄膜沉积在铜基板上的合成及性能。
机译:在3C-SiC(111)/ Si(111)基板上进行ZnO(002)薄膜的RF溅射退火后处理和表征
机译:反应电子束蒸发沉积Cr掺杂ZnO晶体薄膜的结构和光学性质