机译:退火处理对Si / WO3 / Ag结二极管旋涂三氧化钨薄膜结构和直流电性能的影响
Annealing temperature; P-n junction diodes; Tungsten trioxide; J-V-T characterization; Gaussian distribution;
机译:退火处理对Si / WO3 / Ag结二极管旋涂三氧化钨薄膜结构和直流电性能的影响
机译:用于p-Si / n-WO3-x / Ag结二极管的WO3-x薄膜的微结构和电性能评估
机译:退火处理对射频磁控溅射沉积Ga掺杂ZnO薄膜的结构,电学和光学性质的影响
机译:退火温度对浸纺有ZnO薄膜结构和光学性质的影响
机译:原位热退火工艺对脉冲激光沉积制造CDS Cdte薄膜太阳能电池结构,光学和电性能的影响
机译:快速热退火对原子层沉积生长Zr掺杂ZnO薄膜的结构电学和光学性质的影响
机译:退火对物理气相沉积法制备WO3薄膜结构,光学和电学行为的影响