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机译:厚度对直流沉积钛膜性能的影响磁控溅射和电子束蒸发技术
Thin films; atomic force microscopy (AFM); surfaces; hardness; X-ray diffraction; electron microscopy.;
机译:厚度对直流沉积钛膜性能的影响磁控溅射和电子束蒸发技术
机译:厚度对直流沉积钛膜性能的影响磁控溅射和电子束蒸发技术
机译:D.C的厚度对钛膜性能的影响。磁控溅射和电子束蒸发技术
机译:反应性-DC-磁控溅射与离子束溅射和电子束蒸发膜沉积的氧化膜光学性质的比较
机译:通过反应磁控溅射沉积的亚稳态钛(0.5)铝(0.5)铝合金薄膜的物理性能。
机译:磁控溅射沉积非晶碳膜的基体温度相关的微观结构和电子诱导的二次电子发射特性
机译:D.C的厚度对钛膜性能的影响。磁控溅射和电子束蒸发技术