机译:动态应力下多晶硅薄膜晶体管自热引起的负偏压温度不稳定性
THIN-FILM TRANSISTORS; DEGRADATION; OPERATION;
机译:动态应力下多晶硅薄膜晶体管自热引起的负偏压温度不稳定性
机译:评估多晶硅TFT的负偏压温度应力引起的阈值电压偏移变化的分析方法
机译:显着降低桥式晶粒多晶硅TFT中动态负偏置应力引起的退化
机译:动态负偏置温度应力下p沟道多晶硅TFT中应力引起的驼峰
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:偏置应力和温度对InGaZnO TFT和电路的影响
机译:水分对Gizo TFT偏置照明温度不稳定性的影响及钝化系统的相关研究