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StraDex-Messsysteme zur Messung von komplexen Bauteilen

机译:StraDex测量系统,用于测量复杂组件

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摘要

Isis optronics, innovativer Anbieter von optischen Scannern fur die industrielle Inspektion, prasentierte auf der MTQ in Dortmund und der Euromold in Frankfurt die Messsystem-Serie StraDex. Im Mittelpunkt stehen die beruhrungslosen Messsysteme StraDex 80 p fur Oberflachenmessungen von frei zuganglichen Stellen, und StraDex 80 i fur Innenraum-messungen. Dr. Alexander Knuttel, Geschaftsfuhrer der Isis optronics GmbH, erlautert: "Mechanische Bauteile werden immer komplexer und erfordern eine deutlich hohere Prazision und Leistungsfahigkeit der Messtechnik in der Produktion. Ausserdem spielen der Kostendruck und die immer kurzeren Prufzeiten eine zunehmend wichtigere Rolle. Unsere interferometrisch arbeitenden optischen Scanner untersuchen komplexe Formabweichungen und Mikrodefekte hochgenau und sehr schnell. Defekte unterhalb der Oberflache werden ebenfalls detektiert." Die Messsystem-Serie StraDex wurde zur automatisierten Untersuchung von Oberflachen entwickelt. Das StraDex 80 i tastet Innenraume ab einem Innendurchmesser von 0,9 Mikrometer genau und beruhrungslos ab. Vorhandene Beschichtungen auf der Oberflache konnen-ob voll transparent oder stark streuend-problemlos in die Prufung der Bauteile integriert werden. Die Genauigkeit, mit der topografi-sche Defekte bzw. Toleranzab-weichungen oder Schichtdickenvariationen festgestellt werden konnen, liegt, abhangig von der Oberflachenqualitat, im Submikrometerbereich. Bei einer Abtastrate von 16 kHz pro Sekunde konnen durch eine integrierte Autofocusfunktion Hohenunterschiede von maximal 22 mm kompensiert werden-kleinere Objekte (lassen sich damit in Sekundenschnelle abtasten. Eine speziell auf diese Messaufgaben entwickelte Software stellt eine schnelle und unproblematische Integration dieses Messsystems in den Fertigungsprozess sicher. Die Software beinhaltet je nach Applikation alle notwendigen Tools wie Konfiguration, Darstellung und Auswertung, um eine einwandfreie, 100 percent ige Qualitatssicherung zu gewahrleisten.
机译:创新的工业检测光学扫描仪供应商Isis Optronics在多特蒙德的MTQ和法兰克福的Euromold上展示了StraDex测量系统系列。重点是非接触式测量系统StraDex 80 p用于在可自由接近的地方进行表面测量,以及StraDex 80 i用于室内测量。博士Isis optronics GmbH董事总经理Alexander Knuttel解释说:“机械组件变得越来越复杂,在生产中对测量技术的精度和性能的要求显着提高。此外,成本压力和越来越短的检查时间也起着越来越重要的作用。我们的干涉式光学扫描仪非常精确,快速地检查形状和微缺陷的复杂偏差,还可以检测到表面以下的缺陷。” StraDex系列测量系统是为自动检查表面而开发的。 StraDex 80 i可以精确且无接触地从0.9微米的内径扫描内部空间。表面上的现有涂层可以集成到组件的测试中,而不会出现任何问题,无论是完全透明的还是高度散射的。可以确定表面缺陷或公差偏差或层厚度变化的精度在亚微米范围内,具体取决于表面质量。集成的自动对焦功能以每秒16 kHz的采样速率可以补偿最大22毫米的高度差-较小的物体(可以在几秒钟内扫描。针对这些测量任务而专门开发的软件确保该测量系统可以快速,轻松地集成到制造过程中根据应用程序的不同,该软件包含所有必要的工具,例如配置,显示和评估,以确保100%的完美质量保证。

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