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机译:具有中性铯沉积的SIMS分析:负二次离子灵敏度的提高和定量方面
SIMS; neutral cesium deposition; useful yield; quantification; cation mass spectrometer; IN-SITU DEPOSITION; DEPTH PROFILE ANALYSIS; MASS-SPECTROMETER CMS; WORK-FUNCTION CHANGES; HIGH-INCIDENCE ANGLES; SURFACE-MORPHOLOGY; SPUTTERING YIELDS; RIPPLE TOPOGRAPHY; OPTIMIZATION; IONIZATION;
机译:具有中性铯沉积的SIMS分析:负二次离子灵敏度的提高和定量方面
机译:升级版TOF-SIMS VG Ionex IX23LS:先前具有中性铯沉积的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的负二次离子发射研究
机译:中性铯沉积导致SIMS分析中电子功函数降低
机译:激光吸收光谱法定量负氢离子源中的铯
机译:探索蛋白质组学测量的基本方面:提高质量测量准确性,简化绝对定量并增加电喷雾响应。
机译:通过原子层沉积和化学气相沉积在高纵横比结构中沉积的薄膜的ToF-SIMS 3D分析
机译:中性类固醇的电子捕获衍生化用于提高液相色谱/负大气压化学电离 - 质谱中的灵敏度
机译:增加氢原子负离子源中铯离子的空间电荷限值和其他效应