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机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关特性和压电活性进行纳米级研究
Pb(Zr; Ti)O{sub}3 ferroelectric films; Nanoscale investigations; Piezoresponse force microscopy; Local piezoelectric hysteresis loops; Domain imaging; Switching properties; Coercive voltage; Piezoelectric activity;
机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关特性和压电活性进行纳米级研究
机译:压电响应力显微镜直接表征(Pb,La)TiO_3薄膜的纳米级畴转换和局部压电环
机译:压电响应力显微镜在(111)取向PLZT 10/40/60薄膜上测量的纳米级压电性能的厚度依赖性
机译:用压电响应扫描力显微镜检查外延PB(Zr,Ti)O_3薄膜偏振切换域壁速度和成核速率
机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关行为进行纳米研究。
机译:铁电多晶块和厚膜的压电响应力显微镜研究
机译:使用X射线衍射和压电响应力显微镜研究外延pbxsr1-xTiO3薄膜中的铁电畴
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度