...
首页> 外文期刊>Applied optics >Reply to comment: Absolute measurement of roughness and lateral-correlation length of random surfaces by use of the simplified model of image-speckle contrast
【24h】

Reply to comment: Absolute measurement of roughness and lateral-correlation length of random surfaces by use of the simplified model of image-speckle contrast

机译:回复评论:通过使用图像斑点对比的简化模型,绝对测量随机表面的粗糙度和横向相关长度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

In this reply, we further demonstrate the consistency of the theory and the experimental performance in our previous paper [Appl. Opt. 41, 4148 (2002)]. We expound our point of view that the simultaneous measurement for the roughness and lateral correlation length of random surfaces by use of the simplified model of image speckle contrast is correct and valid, and we point out the differences of our method from those in the literature.
机译:在此答复中,我们在先前的论文中进一步证明了理论和实验性能的一致性。选择。 41,4148(2002)]。我们阐明了这样的观点,即使用简化的图像斑点对比度模型同时测量随机表面的粗糙度和横向相关长度是正确和有效的,并且指出了我们方法与文献中方法的差异。

著录项

  • 来源
    《Applied optics》 |2003年第14期|共3页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 光学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号