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机译:基于第二类删失样本的具有帕累托分布的电子元器件预测未来寿命的计算比较
multiply type II censored samples; prediction interval; Pareto distribution; Monte Carlo simulation; lifetime; EXPONENTIAL-DISTRIBUTION; ORDERED OBSERVATION; SCALE PARAMETERS; STATISTICS; LOCATION;
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机译:II型乘删失样本下加权矩估计量的计算比较和已知形状参数的帕累托分布比例参数的BLUE
机译:基于多重II型删失样本的单参数指数分布的未来观测预测间隔
机译:基于Burr XII分布的II类删失样本的统计推断
机译:基于逐步类型II缩醛样品的广义静脉分布下多组分应力系统的可靠性推断
机译:基于乘积类型II删失样本的极值分布参数的加权矩估计
机译:基于maTLaB的串联系统最小修复次数的贝叶斯预测 在瑞利分布下混合删失组件寿命的样本