PON用光線路試験システムの設計

摘要

光サービスを経済的に提供するため，所内に4分岐，所外に8分岐の光スプリッタを設置したPON方式が導入されている．一方，光ファイバケーブルの建設·保守コストを低減するため，光線路試験システムが開発·導入されているが，光線路試験システムで使用するOTDRでPONの光線路を測定した場合，分岐された光スプリッタ下部心線からの後方散乱光が重なるため光スプリッタ下部の故障切分けが困難である．そこで，光スプリッタ下部心線の試験を目的として，光試験装置(OTM)のOTDRを高分解能化した光線路試験システムを検討している．本稿では，光スプリッタ下部心線の故障切分けに必要な光線路試験システムの各特性について検討したので報告する．