PONにおけるスプリッタ下郎故障位置探索の為の光線路試験システムの試験披長設計

摘要

所外に光スプリッタを配置した光線路（PON）にて通信設備ビルから光パルス試験を行った場合，光スプリッタによる分岐損失および光スプリッタ下部各線路からの戻り光の重畳により，正確なOTDR波形を得る事が出来ない．そこで，ユーザ宅側からの光試験が考えられるが，試験光を遮断するターミネーションフィルタの存在により既存の試験波長である1650nmでは光試験が出来ない．そこで，本研究ではPONに対応した光線路試験システムおよび最適な試験波長設計について提案する．