在自－测试和扫描－测试期间检测或查找交叉时钟域故障的多－捕获为测试而设计的系统

摘要

一种方法和设备，用于提供经排序的捕获时钟(111，114，117，120)，以在自-测试或扫描-测试模式中在集成电路或电路组件(133)中检测或查找在N个时钟域(CD1，CD2，CD3，CD4)中的故障以及交叉任何两个时钟域(CCD1，CCD2，CCD3，CCD4)的故障，其中N＞1，以及每个域具有多个扫描存储单元(SC)。所述方法和设备允许在位移操作期间产生N个伪随机或预定激励(109)，并装载到集成电路或电路组件中的N个时钟域中的所有扫描存储单元，在捕获操作期间把经排序的捕获时钟序列(CK1，CK2，CK3，CK4)施加到N个时钟域中的所有扫描存储单元，在压缩/比较操作期间，压缩或比较所有扫描存储单元的N个输出响应(110)，用于进行分析，以及重复上述过程，直到到达预定的限制标准。进一步开发一种计算机辅助设计(CAD)系统，以实现方法和合成设备。