マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成

摘要

Currently, scan testing is one of the most popular test methods for VLSIs. In this testing, only information of the circuit structure is used, the circuit might be transferred to invalid state by the shift operation and it test. Therefore, it is considered that the scan testing is over testing. The occurrence of the yield loss and an increase in the test length are enumerated as an evil of the over testing. In this paper, a k-cycle capture test is proposed to detect faults by sequential operations in scan testing. Moreover, a k-cycle capture stuck-at fault test generation is proposed Because k cycle sequential operation is performed in order to detect a fault in k-cycle capture test, it is considered that the probability that a state transfers to invalid state is low. In addition, it experiments to the ISCAS '89 bench mark circuit to show the effectiveness of the proposal technique.%スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によって回路を無効状態に遷移させてテストする場合がある．したがって，スキャンテストはオーバテストを行っていると考えられる．オーバテストの弊害としては，歩留まり損失の発生やテスト長の増加が挙げられる．その解決策として本稿では，順序動作で故障を検出するスキャンテスト方法としてkサイクルキャプチャテストを提案する．また，それに伴うテスト生成としてkサイクルキャプチャ縮退故障テスト生成法を提案する．kサイクルキャプチャテストでは，kサイクル間順序動作を行うので，無効状態に遷移する確率が低くなると考えられる．ISCAS’89ベンチマーク回路を用いて本提案手法の有効性を示す．