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パーティクル計測技術:ガス中のパーティクル計測-パーティクルカウンタによる高圧ガス中のパーティクル計測

机译:粒子测量技术:通过粒子计数器测量高压气体的气体颗粒测量

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摘要

半導体産業をはじめとする各種電子産業において、デバイス製造に使用される高純度ガス中のパーティクルは、製品の品質や歩留まりに直接影響を及ぼすものとして広く知られている。ガス中のパーティクルの測定には、クリーンルームの清浄度管理と同様に、光散乱式パーティクルカウンターがその利便性から広く利用されている。ここでは、主にバルクガス中のパーティクル評価に広く用いられでいる、高圧ガス用レーザーパーティクルカウンターをメインに、高圧ガス中のパーティクル計測技術について紹介する。
机译:在诸如半导体行业的各种电子设备中,用于器件制造的高纯度气体中的颗粒被广泛称为它们直接影响产品质量和产量。 如在气体中的颗粒的测量中,光散射颗粒计数器广泛地使用其便利性以及清洁室的清洁度管理。 这里,用于高压气体的粒子测量技术主要用于散装气体中的粒子评估,并引入高压气体中的粒子测量技术。

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