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粒子测量设备、粒子分离测量设备以及粒子分离测量装置

摘要

本公开的粒子测量设备(3)在上表面具有包含测量对象的粒子的第1流体流入的第1流入口(23),具有与第1流入口(23)连接的用于测量粒子的第1流路(16)、以及在第1流路(16)与第1流入口(23)的连接部的上游侧连接的、宽度小于第1流入口(23)的第3流路(29),第1流路(16)具有宽度大于第3流路(29)的宽度以及第1流入口(23)的宽度的第1平面部(27)、与第1平面部(27)的下游侧连接的宽度增大部(16a)、以及与宽度增大部(16a)的下游侧连接的第2平面部(28)。

著录项

  • 公开/公告号CN113557423A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京瓷株式会社;

    申请/专利号CN202080020025.1

  • 发明设计人 米田将史;增田雄治;

    申请日2020-03-13

  • 分类号G01N15/14(20060101);G01N21/03(20060101);G01N35/08(20060101);G01N37/00(20060101);B01J19/00(20060101);B03B5/00(20060101);B03B5/62(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王晖

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2023-06-19 12:59:17

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