スキャンテストにぉけるキャプチャ時の低消費電力化に效果的なテスト集合變更について

摘要

スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度の1Rドロップを引き起こす可能性があり，それは深刻な歩留まりの低下につながる．本論文では，テスト集合変更に基づいた手法を用いる．提案手法の特徴は（1）与えられたテストパターンに対し，故障検出率を低下させずに，選択したビットをドントケア（別　 に変える新しい制約Ⅹ判定手法と，（2）キャプチャ時の論理値の遷移数を削減するLCP（LowCaptureP。 wer）のため，Xへの論理値割り当て手法である．提案手法はチップ面積，タイミング，テスト集合サイズ，および故障検出率に影響なくキャプチャ時の消費電力を削減するため，テスト生成フローへ容易に組み込むことが出来る．ベンチマーク回路での実験結果は提案手法の効果を示している．