低功耗扫描测试的分析与建模

摘要

基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。