縮退故障テスト集合と遷移故障テスト集合を用いた欠陥検出能力向上のためのドントケア割当て法

摘要

従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの製造プロセスの微細化に伴い，それらを対象としたテストでは検出されない欠陥が増加している．本論文では，近年頻繁に発生する欠陥の中で検出条件が複雑な微小遅延故障モデルとオープン故障モデル，ブリッジ故障モデルに対するテスト品質評価尺度として故障活性化率を定義し，与えられたテスト集合に対して故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行う手法を提案する．縮退故障モデルと遷移故障モデルを対象としたテスト集合に対して，故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行うことで，テストパターン数を増加させることなく高品質なテスト集合を生成することが可能である．ISCAS'85ベンチマーク回路とISCAS'89ベンチマーク回路に対して，初期テスト集合として与えられたものと比較して，提案するドントケア割当て法によって生成されたテスト集合はSDQL値を最大18％，オープン故障検出率を最大14.8％，ブリッジ故障検出率を最大9.4％改善できることを示す．