［依頼講演］リード·ホット·データとコールド·データのエラーを削減するデータセンタ向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼制御技術

摘要

クラウドデータセンタでは、読み出しが頻繁に行われるホットデータからほとhど読み出しが行われないコールドデータまで、様々なデータが格納されている。本論文では、ホットデータとコールドデータでは閾値電圧の変動が異なることを明らかにした。特にホットデータを保存したTLC NAND型フラッシュメモリは閾値電圧が複雑に変動する。従来のSSDではホット、コールドに関わらず読み出す際に同じ電圧を印加していたため、それぞれのデータに生じるエラーを同時に削減することができない。そこで、ホットデータとコールドデータを異なるメモリ領域に格納する手法を提案し、閾値電圧の変動に応じて最適な読み出し電圧を用いることで読み出しに伴うエラーを85%低減し、読み出し可能回数を6.7倍向上した。