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タイミング·フォールト検出手法のRAMへの適用

机译:定时故障检测方法到RAM中的应用

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摘要

近年,半導体プロセスの微細化に伴ってチップ上の素子遅延のばらつきが増加しており,ワースト·ケース設計では性能が向上しなくなる恐れがある.そこで我々の研究室では,ワースト·ケースではなくティピカル·ケースに基づく動作を可能にするために,タイミング·フォールト検出と二相ラッチによるタイム·ボローイングを組み合わせた,動的タイム·ボローイングを可能にするクロッキング方式を提案している.本稿では,レジスタ·ファイルやキャッシュを構成するSRAMへの本手法の適用について検討·提案を行う.特に従来のSRAMのワード·ライン切り替えでは,タイム·ボローイングを許容した設計でTF検出の正しさを保証することは難しい.提案する手法では,TF検出期間に入った命令のワード·ラインを検出期間中は保持し,次サイクルの命令のワード·ラインと同時にアクセスすることで,TF検出の正しさを保証する.提案手法を適用したレジスタ·ファイルをトランジスタ·レベルで設計し,SPICE シミュレーション上でTFと誤検知の発生率を評価した.
机译:近年来,随着半导体工艺的小型化,芯片上的装置延迟的变化增加,并且最坏情况设计的性能可能不会提高性能。因此,在我们的实验室中,它使动态时间镗孔与两相闩锁相结合的时序故障检测和时间镗孔,与两相闩锁相结合,以实现Tipler案例。我们提出了一种时钟方法。在本文中,我们考虑并建议将此方法应用于构成注册文件和缓存的SRAM。特别地,在传统SRAM的字线切换中,难以保证TF检测在允许时间钻孔的设计中的正确性。在所提出的方法中,TF检测周期中的指令的字线在检测周期期间保持并与下一个周期指令的字线同时访问TF检测正确性。施加所提出的方法的寄存器文件在晶体管水平上设计,并且对Spice仿真评估了TF的入射和假检测。

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