首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. 集積回路. Integrated Circuits and Devices >g_m/I_D Lookup Table法を基礎としたアナログ回路最適化設計
【24h】

g_m/I_D Lookup Table法を基礎としたアナログ回路最適化設計

机译:G_M / I_D查找表基本模拟电路优化设计

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

本報告では、微細CMOSテクノロジを用いたアナログ回路最適化設計において、解析的設計手法であるg_m/I_D Lookup Table法の有効性を、2つの側面から提案する。1つめは、アナログ回路最適化ツールにおいて、有効な初期値を与えることができること、2つめは、トランジスタのSPICEアナログ·パラメータの検証を実行できることである。前者においては、数値的手法によりデザイン·センタリングとサイジングを実行するツールWiCkeD を用い、g_m/I_D Lookup Table法で最適化されたアナログ回路が有効な初期値を与えることを示し、このツールによる性能改善割合を示すとともに、統合設計環境の提案を行う。後者においては、0.18μm CMOSテクノロジを用いたTEG設計·評価により、実測から得られたg_m/I_D Lookup Tableをシミュレーションと比較し、定義された誤差関数によりパラメータの正当性を定量的に検証し、ディジタル特性への影響を最小化した条件で、アナログ·パラメータを再最適化する手法を提案する。
机译:在本报告中,在使用精细CMOS技术的模拟电路优化设计中,从两个方面提出了G_M / I_D查找表方法的效果,即分析设计方法。首先是在模拟电路优化工具中,可以提供有效的初始值,第二个是可以执行晶体管的Spice模拟参数验证。在前者中,使用刀柄通过数值技术执行设计居中和尺寸的尺寸,表示由G_M / I_D查找表方法优化的模拟电路提供了有效的初始值,并在显示比率时通过此工具进行性能改进综合设计环境的建议。在后者,TEG设计和评估使用0.18μmCMOS技术比较了从仿真测量获得的G_M / I_D查找表,并且通过定义的错误功能定量验证参数的有效性,我们提出了一种重新优化的方法在最小化数字属性的影响下的模拟参数。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号