放射光軟X線光電子顕微鏡による有機分子薄膜のナノ構造観察

摘要

光電子顕微鏡（PEEM）は，ナノメートルオーダーのメゾスコピック領域を高速で観察するための手法である．本稿では，PEEMの光源として軟X線領域の放射光を用い, X線のエネルギー可変性と偏光特性を利用することにより，有機薄膜の電子構造や分子配向をナノメートルスケールで実時間観測した結果について報告する.