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半導体発光デバイスの信頼性研究-総論と1990年代以降のトピックス

机译:半导体照明设备可靠性研究 - 一般和20世纪90年代之后的主题

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摘要

半導体発光デバイスは、大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず、オーディオ/ディジタルシステム、センシングシステム、医療機器用など、極めて多岐にわたる領域に用いられており、その材料·構造も多種多様となってきている。そのため、高性能で信頼性の高い製品を開発するには、発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではない。したがって、これら発光デバイスの信頼性に関する研究もその開発の黎明期である1970年代初頭から現在に至るまで、精力的に行われてきた。本講演では、発光デバイスの信頼性研究について、まず3つの主要な劣化モードを紹介した後、1990年代以降の主な研究成果(トピックス)について概説するとともに、残された課題についても議論する。
机译:半导体发光器件不仅用于用于高容量光纤通信系统的光源,还用于音频/数字系统,传感系统,医疗设备等,以及它们的材料和结构也是多样的。它来了。 因此,毫不夸张地开发出高性能和可靠的产品,但即使是发光器件的可靠性的提高也是重要的关键。 因此,20世纪70年代初,这些发光器件的可靠性研究也从20世纪70年代初进行了剧烈。 在这段讲座中,在引入了三种主要的发光设备可靠性模式之后,我们将在20世纪90年代之后概述主要研究成果(主题)并讨论剩下的问题。

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