計測器が物流中の落下衝撃で受ける問題と解決へのアプローチ

摘要

計測機器のライフサイクル（開発から消費までの流れ）をみると、開発設計（製品および包装)から始まり、流通過程（物流環境）を経てエンドユーザまで届けられた後、使用される（図1)。これらの流れの中で、計測機器が遭遇する落下衝撃事象は、2つの環境に大別される。1つは機器を出荷してユーザまで届けられる際の「物流環境」であり、もう一つは顧客側にて機器が利用されるときの「使用環境」である。