首页> 外文期刊>Автоматика и Телемеханика >РАЗРАБОТКА ТЕСТОВ ДЛЯ АНАЛИЗА КОНТРОЛЕПРИГОДНОСТИ СБИС НА ВЕРХНИХ УРОВНЯХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
【24h】

РАЗРАБОТКА ТЕСТОВ ДЛЯ АНАЛИЗА КОНТРОЛЕПРИГОДНОСТИ СБИС НА ВЕРХНИХ УРОВНЯХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ

机译:开发用于超大规模集成电路的可测性分析试验的顶层设计

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Анализируется состояние, проблемы контроля сверхбольших интегральных схем (СБИС). Рассматриваются задачи направленного построения тестов контроля на системном уровне представления объекта или уровне межрегистровых передач (RTL) на языке VHDL. Класс функциональных неисправностей, рассматриваемых при направленном построении теста, соответствует неисправностям константного типа реализаций СБИС на элементах соответствующих библиотек проектирования. Предлагается метод направленного построения теста, который позволяет на ранних этапах проектирования анализировать зависимость контролепригодности от применяемых технологических библиотек проектирования.
机译:分析了超高集成电路控制的状态,控制了超高集成电路(SBI)。考虑了在VHDL语言中对象呈现的系统级别的控制测试的定向结构的任务。用测试方向构造覆盖的功能故障等于对应设计库的项目上的常量类型的SBSM实现的故障。试验的定向构建方法,允许设计的早期阶段,分析控制招募的依赖性从施加的技术设计文书。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号