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突起電極を利用したパターンめっき膜厚の均一化-パターン周辺設置電極

机译:使用突出电极图案外围安装电极测量图案镀膜厚度

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摘要

セミアディティブ法のパターン電気めっき膜厚の均一化について数値解析により検討した。 BGA用パターンめっき基板を各領域に分け.Active area densityを定義した。 BGAパターン内の電流密度分布をラプラス式とバトラー·ボルマ一式で数値解析した。 この方法で,パターン密度および,めっき液の電気伝導度による,パターンめっき篭絡分布への影響を竃流分布シミュレーションで把達することができた。 さらに,BGA用パターンめっき基板のパターン周辺部に補助突起電極を設置することにより,配線密度の粗なBGAパターン端部に集中していた電流を補助突起電極が吸収し,端部の電流密駿は減少すること巷見出した。 電流密度分布は,補助突起電極の位置(基板端部からの高さ,間隔)により変化し,戯通化することにより,電流密度分布の誤差が最小誤差の3.37%となり,均一化の可能性が示唆された。
机译:通过数值分析考虑了半添加剂方法的图案电镀膜厚度的测量。将BGA图案电镀基板分成每个区域。已定义有源区域密度。在Laplace表达和Batler肱骨中分析BGA图案中的电流密度分布。以这种方式,通过拉伸流动分布模拟可以加速通过图案密度对图案电镀外围分布的影响和电镀液的电导率。此外,通过将辅助突出电极安装在用于BGA的图案电镀基板的外围部分,辅助突出电极吸收电流,该电流集中在布线密度的粗BGA图案端,以及端的末端结束我看到了一个阴影来减少。电流密度分布由于辅助突起电极(高度,间隔)的位置而改变,并且通过使电流密度分布的误差是最小误差的3.37%的误差,并且提出可能的均匀性来执行。

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