古くて新しいバウンダリスキャン技術

摘要

バウンダリスキャンが電子回路実装基板のテスト手法として1990年に誕生してから,約30年が経過しょうとしている。その間にバウンダリスキャンでテストされる電子回路の進歩は著しく,電子回路基板の微細化,電子デバイスの小型高集積化そして高密度実装技術の進歩で,スマ一トフオンをはじめとしてあらゆる電子機器の小型?高密度化が進hでいる。