偏光パターン投影による瞬間三次元形状計測

摘要

我々は，偏光カメラを用いた同軸光学系によるスナップショット三次元形状計測法を提案してきた。空間位相変調器（DMD）で作られた偏光格子パターンを光強度として直接検出することはできないが，偏光カメラで検出することで焦点深度に応じてコントラストの変化した光強度情報を検出することができる。コントラスト情報はスナップショットで解析できるため，リアルタイムで三次元の座標を決定できる。本解説では，まず，偏光カメラと偏光照明について述べたのち，偏光パターンによる格子パターン投影法および偏光カメラを用いた同軸光学系によるスナップショット三次元形状計測法について述べる。