直交表を利用したSW製品評価--HAYST法の開発

摘要

L_(128)までの2水準系直交表を用い，多因子多水準系に対応した。禁則情報から禁則構造を解析し，禁則を回避できるようにした。 これらの生成プロセスを自動化し，誰でも同一品質のテスト·マトリックスを生成できるようにした。 この結果，2因子間の組み合せ網羅率が大幅に向上し，バグ抽出が向上した。 ここから組み合せ網羅率の重要性を示した。 工数面ではテスト項目作成工数が自動生成を実現することにより大幅に改善した。 また，工数の改善，品質指標によるテストの質の可視化は，テスト設計フロロセスの改善にも貢献した。