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Electron Emission from Cs/GaAs and GaAs(Cs, O) with Positive and Negative Electron Affinity

机译:来自CS / GaAs和GaAs(CS,O)的电子发射,具有正和负电子亲和力

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摘要

The evolution of probabilities of escape of hot and thermalized electrons from GaAs(001) with adsorbed cesium and oxygen layers to vacuum at the transition from positive to negative effective electron affinity is studied by the photoemission quantum yield spectroscopy. A minimum of the probability of escape of thermalized electrons near zero electron affinity is revealed and explained.
机译:通过光曝光量子产量光谱研究,从GaAs(001)与吸附铯(001)逸出的热和热化电子从GaAs(001)中的热和热化电子从GaAs(001)中的过渡到过渡到从正到负有效的电子亲和力的过渡。 揭示和解释了最小的热化电子逸出的突出概率。

著录项

  • 来源
    《JETP Letters》 |2017年第10期|共5页
  • 作者单位

    Russian Acad Sci Rzhanov Inst Semicond Phys Siberian Branch Novosibirsk 630090 Russia;

    Russian Acad Sci Rzhanov Inst Semicond Phys Siberian Branch Novosibirsk 630090 Russia;

    Russian Acad Sci Rzhanov Inst Semicond Phys Siberian Branch Novosibirsk 630090 Russia;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

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