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机译:C-AFM和KPFM的Nio薄膜纳米级电性能的研究:Cu掺杂的影响
Xuchang Univ Inst Surface Micro &
Nano Mat Key Lab Micronano Energy Storage &
Convers Mat He Xuchang 461000 Peoples R China;
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NiO films; Nanoscale current; Conductive atomic force microscopy (C-AFM); Cu doping;
机译:C-AFM和KPFM的Nio薄膜纳米级电性能的研究:Cu掺杂的影响
机译:使用压电响应力显微镜对在LaNiO3 / LaAlO3(100)和Pt / Si(111)上生长的(Pb,Ca)TiO3薄膜中的铁电和压电性质进行纳米级研究
机译:借助局部压电响应在铂和LaNiO_3电极上沉积弛豫Pb(Mg_(1/3)Nb_(2/3))O_3-PbTiO_3薄膜中的电学性质的纳米尺度研究
机译:宽带隙Cu(In,Ga)Se
机译:铌SNS约瑟夫逊结阵列和具有纳米级磁性点阵列的铌薄膜的高频电传输测量。
机译:纳米晶种层在玻璃上掺铌TiO2薄膜增强性能中的作用
机译:纳米级种子层对铌掺杂TiO2薄膜在玻璃上增强性能的作用
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度