机译:使用压电响应力显微镜对在LaNiO3 / LaAlO3(100)和Pt / Si(111)上生长的(Pb,Ca)TiO3薄膜中的铁电和压电性质进行纳米级研究
Univ Estadual Paulista Unesp, Dept Chem, POB 473, BR-17033360 Bauru, SP, Brazil;
Univ Estadual Paulista Unesp, Dept Chem, POB 473, BR-17033360 Bauru, SP, Brazil;
Univ Fed Sao Carlos, Dept Chem, LIEC, Via Washington Luiz,Km 235,POB 676, BR-13565905 Sao Carlos, SP, Brazil;
Univ Fed Sao Carlos, Dept Phys, NanO LaB, Via Washington Luiz,Km 235,POB 676, BR-13565905 Sao Carlos, SP, Brazil;
Univ Estadual Paulista Unesp, Inst Chem, Araraquara, SP, Brazil;
Univ Sao Paulo, Inst Phys Sao Carlos, BR-13560250 Sao Carlos, SP, Brazil|UNICEP, BR-13563470 Sao Carlos, SP, Brazil;
Univ Fed Sao Carlos, Dept Chem, LIEC, Via Washington Luiz,Km 235,POB 676, BR-13565905 Sao Carlos, SP, Brazil|Univ Estadual Paulista Unesp, Inst Chem, Araraquara, SP, Brazil;
Thin films; PFM; Buffer layer; Epitaxial growth;
机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关特性和压电活性进行纳米级研究
机译:压电响应力显微镜在(111)取向PLZT 10/40/60薄膜上测量的纳米级压电性能的厚度依赖性
机译:利用X射线衍射和压电响应力显微镜研究外延PbxSr1?xTiO3薄膜中的铁电畴
机译:在Pt(111)/ SiO_2 / Si(100)上生长的BaMgF_4薄膜的铁电性能和晶体结构
机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关行为进行纳米研究。
机译:铁电多晶块和厚膜的压电响应力显微镜研究
机译:局部压电响应缺陷对Fe,La-Demied(Pb,Sr)TiO3薄膜的缺陷依赖性研究:一种压电响应力显微镜研究