机译:立方体滑动系统的造影因子的测定及其在二元FM(3)覆盖物质的微观结构特征中的应用
Tecnol Monterrey Ctr Agua Amer Latina &
Caribe Monterrey 64849 Mexico;
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Caribe Monterrey 64849 Mexico;
Contrast factors; Strain anisotropy; Distortion tensor; Williamson-Hall method; X-ray line profile analysis;
机译:立方体滑动系统的造影因子的测定及其在二元FM(3)覆盖物质的微观结构特征中的应用
机译:立方体(FM(3)覆盆子)结构型K4AG18T11及相关结构的原子配置的晶体谱分析
机译:小角度中子散射法在核应用材料的微观结构表征
机译:了解通过先进的微观结构表征和NDT-EMAT分析的无缝管钢低韧性性能的微观结构因素。
机译:测定分子筛材料孔径分布的方法及其在部分热解聚硅苯乙烯/多孔玻璃复合膜表征中的应用
机译:Ni1–xZnxFe2O4 / NBR复合材料在2–12.4 GHz范围内可调谐双匹配频率(fm1 / fm2)行为:一种用于隐身应用的战略材料系统
机译:立方滑移系统对比因子的确定及其对策 应用于二元Fm $ \ bar {3} $ m的微观结构表征 物料
机译:二元立方固溶体的精确结构因子测定