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机译:X射线平板检测器几何校正,提高尺寸计算断层扫描测量
Fed Inst Metrol METAS Lab Length Nano &
Microtechnol Bern Switzerland;
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x-ray flat-panel detector; geometrical image distortions; error correction; dimensional metrology; x-ray computed tomography;
机译:X射线平板检测器几何校正,提高尺寸计算断层扫描测量
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