机译:使用多层模拟研究的环形暗场扫描共聚焦电子显微镜
Natl Inst Mat Sci Transmiss Electron Microscopy Stn Tsukuba Ibaraki 3050047 Japan;
Natl Inst Mat Sci Transmiss Electron Microscopy Stn Tsukuba Ibaraki 3050047 Japan;
Natl Inst Mat Sci Transmiss Electron Microscopy Stn Tsukuba Ibaraki 3050047 Japan;
scanning confocal electron microscopy (SCEM); 3D characterization; multislice simulation; electron channeling; Al-Cu alloy; Guinier-Preston zone;
机译:使用多层模拟研究的环形暗场扫描共聚焦电子显微镜
机译:高分辨率透射电子显微镜和高角度环形检测器暗场扫描透射电子显微镜研究200℃下Mg-Sm合金中析出物的表征
机译:高分辨率透射电子显微镜和高角度环形检测器暗场扫描透射电子显微镜研究200℃下Mg-Sm合金中析出物的表征
机译:使用双像差校正显微镜建立环形暗场扫描共聚焦电子显微镜
机译:扫描电子显微镜中同时进行的明场和暗场扫描透射电子显微镜:一种分析聚合物系统形态的新方法。
机译:结构和组成复杂的Mo–V–Nb–Te氧化物催化剂的高角度环形暗场扫描透射电子显微镜图像的多层冷冻声子模拟
机译:在峰值硬度条件下在峰值硬度条件下老化的Mg-5沉淀的β'相沉淀物的表征,通过大角度环形检测器暗场扫描透射电子显微镜研究
机译:通过扫描隧道显微镜,位点分辨光电子衍射和自旋偏振光电子衍射研究在W(110)上生长的薄Fe和Gd薄膜的界面和表面性质