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Application of Scanning Electron Microscopy With Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy for Analyzing Ocular Surface Particles on Schirmer Strips

机译:扫描电子显微镜与能量分散X射线光谱法分析沉壮条带分析眼表面粒子的应用

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摘要

Purpose: To demonstrate the application of scanning electron microscopy with energy-dispersive x-ray spectroscopy (SEM/EDS) for analyzing Schirmer strips for particle concentration, size, morphology, and type distribution.
机译:目的:证明扫描电子显微镜与能量分散X射线光谱(SEM / EDS)的应用,用于分析粒子浓度,尺寸,形态和类型分布的Shirmer条带。

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